Kuvaus

TS 660 SDI sond uurib niiskuse muutusi erinevate struktuuride tasapinnalistelt pindadelt.
TS 660 SDI  Tehniline informatsioon
Materjali niiskus
Mõõtmise põhimõte  mahtuvus
Mõõtepiirkond min. 0,0 digits
Mõõtepiirkond max. 200 digits
Ekraani resolutsioon 0,1 digits
Täpsus 0,1 digits
Mõõda sügavus 40 mm
Ühendus SDI
Sondi pikkus 45 mm
Läbimõõt 32 mm

Link => T3000-meeter
Link => TC 30 SDI kaabel